An optical technique to measure the bulk lifetime and the surface recombination velocity in silicon samples based on a laser diode probe system

ZENI, Luigi
1998

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11591/197207
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 25
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 21
social impact