Determination of the critical value of xc for the direct-to-indirect band-gap transition in AlxGa1-xAs by measuring hot-carrier dynamics in the X valley

Wang, Wb; Alfano, Roberto; Szmyd, D; Nozik, Aj

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Determination of the critical value of xc for the direct-to-indirect band-gap transition in AlxGa1-xAs by measuring hot-carrier dynamics in the X valley / WANG WB; ALFANO R; SZMYD D; NOZIK AJ. - 46(1992), pp. 15828-15832.

Titolo:	Determination of the critical value of xc for the direct-to-indirect band-gap transition in AlxGa1-xAs by measuring hot-carrier dynamics in the X valley
Autori:	WANG WB ALFANO, Roberto SZMYD D NOZIK AJ mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1992
Rivista:	PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER
Handle:	http://hdl.handle.net/11591/192629
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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