Determination of the critical value of xc for the direct-to-indirect band-gap transition in AlxGa1-xAs by measuring hot-carrier dynamics in the X valley / WANG WB; ALFANO R; SZMYD D; NOZIK AJ. - In: PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER. - ISSN 0163-1829. - 46(1992), pp. 15828-15832.
Titolo: | Determination of the critical value of xc for the direct-to-indirect band-gap transition in AlxGa1-xAs by measuring hot-carrier dynamics in the X valley |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1992 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11591/192629 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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