Accuracy Analysis of Voltage Dip Measurement

GALLO, Daniele;LANDI, Carmine;LUISO, Mario
2009

2009
978-963-88410-0-1
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11591/179050
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact